국내 연구팀, 그래핀 표면 결함 검사 기술 개발

[문화뉴스 MHN 문정환 기자] 꿈의 신소재로 불리는 그래핀의 표면 결함을 수 초 내에 검사할 수 있는 기술이 개발됐다.한국연구재단은 손형빈 중앙대 융합공학과 교수 연구팀이 전사된 대면적 그래핀의 결함 및 잔류물을 수 초 내로 평가할 수 있는 광학기법을 개발했다고 지난 27일 밝혔다.촉매 기판에서 부도체 기판으로 그래핀을 전사하는 공정은 트랜지스터, 광센서, 바이오센서 등의 전자소자 제작에 필수적인 공법이다.전사 후 기존의 결함 측정법인 고가 공초점 라만분광법 또는 원자현미경을 이용한 결함 측정은 10분에서 수 시간이 소요된다.따라